珠海234G射频芯片测试

蓝牙产品RF自动化射频测试系统是基于蓝牙标准SIG认证设备的自动化测试系统，数据可查询，统计，分析，自动完成测试，可用于各行各业的蓝牙产品的设计验证和生产测试。该系统可提供蓝牙产品RF的各项测试， 如输出功率、 功率控制、 调制特性、 初始载波容限、 载波频率漂移、 单时隙灵敏度、 多时隙灵敏度、 比较大输入电平等， 还可 对产品蓝牙名称、 版本、 模组、 电量等进行自动检测， 同时能够结合服务器管理功能， 更好地提高生产品质和生产效率。射频测试电路性能，需要把信号传导到某类传输线上，需要至少两个探针导体，即“信号导体”和“地导体”。珠海234G射频芯片测试

早起在射频探针出现之前，由于没有一种能够在无需安装或贴合状态下对单片微波集成电路(MMIC)装置进行测试的简便方法，因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏，引发各种问题。早期的射频探针使用的是共面陶瓷材料，而陶瓷不能太弯曲，因而压触的弹性范围并不大，同时支持的射频频率也较低，首先出现的探针只覆盖到18GHz。在差不多三十年的时间里，射频探针技术便取得了长足的进步，从低频测量到适用多种应用场合的商用方案：如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配，多端口，差分和混合信号的测量装置，连续波模式中直到60W的高功率测量，以及直到1.1THz的太赫兹应用，都能见到射频探针的身影。江西RF射频测试标准射频测试中的常见指标：接收灵敏度、信噪比、发射功率等等。

射频测试中会有哪些专业术语呢？如1、功率/电平（dBm）：放大器的输出能力，一般单位为w、mw、dBm注：dBm是取1mw作基准值，以分贝表示的功率电平。换算公式：电平（dBm）=10lgw5W→10lg5000=37dBm10W→10lg10000=40dBm20W→10lg20000=43dBm从上不难看出，功率每增加一倍，电平值增加3dBm2、增益（dB）：即放大倍数，单位可表示为分贝（dB）。即：dB=10lgA（A为功率放大倍数）3、插损：当某一器件或部件接入传输电路后所增加的衰减，单位用dB表示。4、选择性：衡量工作频带内的增益及带外辐射的抑制能力。-3dB带宽即增益下降3dB时的带宽，-40dB、-60dB同理。5、驻波比（回波损耗）：行驻波状态时，波腹电压与波节电压之比（VSWR）等。

射频测试主要测试什么？射频测试分为内带外试验两种，带内试验的范围也有一定的差别，比如，带内试验主要是检测信号的质量，如功率、频谱宽度、调制质量，而带外测试的是信号的杂散、谐波，主要是看对频带之外的干扰有多大。射频测试是表示可以辐射到空间的电磁频率，频率范围从300KHz～30GHz之间，射频简称RF，是高频交流变化电磁波的简称，其每秒变化小于1000次被称为低频电流，超过10000次的称为高频电流，而射频就是这种高频电流。LTE 终端射频测试项目分为4 大部分，即发射机指标、接收机指标、性能要求、信道状态信息上报。

一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分：测试仪器接口（同轴或是波导）从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导（CPW/MS等）转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。射频测试的前端各种器件与基带一起配合工作，共同决定了手机的通信模式、能力及性能。宁波蓝牙射频测试系统

射频器件主要包括三类：一是天线开关器件、二是功率器件、三是天线器件。珠海234G射频芯片测试

做射频测试工程师有什么要求呢？1、在产品开发初期对射频硬件板卡进行可测性分析,提出可测试性的建议，与研发共同确定单板（单元）的功能测试方案2、与研发人员共同开发制造测试规格，根据临界性能参数，保证产品在规格公差内是可以再生产的。3、设计/参与设计数字单板(单元)的功能测试软硬件环境。4、提高单板（单元）的整体测试覆盖率。5、协助系统测试开发工程师解决系统测试时和单板（单元）相关的问题，并根据系统测试的要求完善功能测试环境。6、协助结构工程师进行测试机框、夹具等的设计工作。7、根据产品性能和产能等产品化要求，完成单板（单元）的工序设计。8、编制和完善相关的测试工艺文件。9、按照模具、工装夹具、程序、生产文档等执行试生产要求，完成产品的小批量试制和中试,及时反馈此过程中出现的问题,并协助研发解决。珠海234G射频芯片测试